您的位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > > 分析檢測設(shè)備 > TE02A礦物熱電系數(shù)測試儀
產(chǎn)品中心
-
產(chǎn)品名稱： 礦物熱電系數(shù)測試儀
產(chǎn)品型號(hào)：TE02A
更新時(shí)間：2025-03-26
TE02A 型礦物熱電系數(shù)測試儀又稱塞貝克系數(shù)測試儀（Seebeck coefficient admeasuring apparatus，SBA），適用于某些材料如礦物顆粒，一般半導(dǎo)體材料的塞貝克系數(shù)及導(dǎo)型的測量。
產(chǎn)品介紹
TE02A 型礦物熱電系數(shù)測試儀又稱塞貝克系數(shù)測試儀（Seebeck coefficient admeasuring apparatus，SBA），適用于某些材料如礦物顆粒，一般半導(dǎo)體材料的塞貝克系數(shù)及導(dǎo)型的測量。
功能特點(diǎn)
l •數(shù)字測量化
礦物熱電系數(shù)測試儀配套測量軟件可設(shè)置活化溫度參數(shù)、批號(hào)、粒號(hào)等參數(shù)，數(shù)字化測量結(jié)果，直觀明確。
l •數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及導(dǎo)出
配套測量軟件可實(shí)現(xiàn)填表后自動(dòng)保存至數(shù)據(jù)庫，并具備按批次、粒號(hào)、測量時(shí)間查詢功能，可導(dǎo)出測量結(jié)果保存為 excel 表格形式。
l •數(shù)碼顯微鏡
測試儀具備數(shù)碼顯微鏡，并可自由調(diào)節(jié)顯微鏡高度、角度，方便查看選取測試樣品，可保存圖片方便標(biāo)記尺寸位置。
l •緩沖探頭
測試探頭具有緩沖結(jié)構(gòu)，可防止探頭接觸樣品壓力過大造成樣品損壞。
l •X-Y 測試平臺(tái)
測試平臺(tái)可沿 XY 方向調(diào)節(jié)，變更測量樣品，實(shí)現(xiàn)原位測試。
l •帶標(biāo)尺載臺(tái)
樣品載臺(tái)具備刻度標(biāo)尺，方便對材料粒度進(jìn)行度量。
技術(shù)參數(shù)
顯示界面 | 計(jì)算機(jī)虛擬環(huán)境 |
適應(yīng)粒徑 | ~0.1 1mm |
熱端溫度 | ≤180℃ |
溫度分辨率 | 0.25℃ |
讀數(shù)分辨率 | 0.01μV/K |
熱電勢量程 | ±100mV |
相關(guān)產(chǎn)品
- (上一篇)：礦物光薄片全景掃描系統(tǒng)
- (下一篇)：K系列瑞典富世華便攜式地質(zhì)取樣刻槽機(jī)